强反射复杂表面随机缺陷检测照明系统分析

被引：15

作者：

曲兴华

何滢

韩峰

赵旭辉

叶声华

机构：

[1] 天津大学精密测试技术及仪器国家重点实验室,天津大学精密测试技术及仪器国家重点实验室,内蒙古工业大学机械学院,天津大学精密测试技术及仪器国家重点实验室,天津大学精密测试技术及仪器国家重点实验室天津,天津,呼和浩特,天津,天津

来源：

关键词：

图像处理; 缺陷显现力; 光电检测; 照明系统; 均匀散射光;

D O I：

暂无

中图分类号：

TP274.3 [];

学科分类号：

摘要：

分析了采用CCD光电检测法对强反射复杂表面随机缺陷进行检测时的光学照明问题。给出了缺陷显现力的具体定义。对比了平行光和均匀散射光对消除强反射光的不同作用及对不同表面缺陷的显现力。分析了使用均匀散射光作为光源时 ,工件表面照度对成像质量的影响。给出了在上述条件下光照系统设计的基本原则。

引用

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