同时鉴定斜长石成分和结构状态的X射线粉末法

将2θ（■04）-2θ（400）角度差（称为E函数）,与△θ1=2θ（131）-2θ（1■1）,△θ2=2θ（■41）-2θ（24■）,Γ=2θ（131）+2θ（220）-4θ（1■1）或△θ1-△θ2等角度差相配合,可以对An0—An70范围内的斜长石An含量和结构状态作出合理的鉴定.将E=2θ（■04）-2θ（400）CuKα分别投于△θ1—An（mol％）,△θ2—An（mol％）,Γ—An（mol％）和△θ1—△θ2—An（mol％）图中,即得到四个鉴定图（图1—4）.运用本文的方法,在一未知斜长石的x射线粉末衍射图中测定出所需反射的2θ值,再将有关的2θ差值投于相应的鉴定图中,便可容易地同时鉴定出该斜长石的An含量和结构状态.