电子器件真实温度和发射率分布的红外测量

用红外热成像系统直接获得的热像图，是被测器件表面辐射温度的分布，并不是真实温度的分布。现介绍一套电子器件热辐射特性测试分析系统，可以方便地测定物体表面的真实温度分布与发射率分布。通过对一系列电子器件的测试，所获得的结果说明该系统是行之有效的，有着很广泛的用途。