ICP—AES多元素同时测定中光谱干扰及基体效应的校正

本文将最优化组合设计与数据分析结合起来用于校正 ICP—AES 中的干扰效应。通过对组合设计进行改进,使设计过程及分析测定更加简化。以 APPLEⅡ微机通过 BASIC 程序对测得数据进行脱机处理,能够准确地对 ICP—AES 分析中复杂基体产生的光谱干扰和基体效应进行校正。