SOC芯片的可测试性设计与功耗优化

介绍了数字集成电路可测试性设计与测试覆盖率的概念,针对一款电力网通信芯片完成了可测试性设计,从测试的覆盖率、功耗等方面提出了优化改进方案,切实提高了芯片的测试覆盖率,缩减了测试时间和成本,降低了测试功耗,同时保证了芯片测试的可靠性,最终使芯片顺利通过量产测试。