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天线近场测量的综述
被引:70
作者
:
论文数:
引用数:
h-index:
机构:
张福顺
论文数:
引用数:
h-index:
机构:
焦永昌
论文数:
引用数:
h-index:
机构:
毛乃宏
机构
:
[1]
西安电子科技大学
来源
:
电子学报
|
1997年
/ 09期
关键词
:
近场测量,发展过程和现状,最新研究成果局限性,研究方向;
D O I
:
暂无
中图分类号
:
TN82 [天线];
学科分类号
:
080906
[电磁信息功能材料与结构]
;
摘要
:
本文概述了近场测量的发展过程和现状,给出近二十年来的最新研究成果,分析了近场测量的局限性,指出未来研究的主要研究方向.
引用
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页数:4
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