抗 SMV 栽培大豆种质资源的 SCAR 标记指纹图谱分析

被引：8

作者：

张志永

张劲松

巩学千

陈受宜

盖钧镒

胡蕴珠

智海剑

机构：

[1] 中国科学院遗传研究所

[2] 南京农业大学大豆所

来源：

高技术通讯 | 1998年 / 10期

关键词：

SCAR，抗病品种，指纹图谱;

D O I：

暂无

中图分类号：

S565.102 [];

学科分类号：

摘要：

依据与ＳＭＶ（ＳｏｙｂｅａｎＭｏｓａｉｃＶｉｒｕｓ）抗性基因紧密连锁的共显性ＳＣＡＲ标记ＳＣＷ—０５６６０的序列测定结果，合成了两对ＳＣＡＲ（ＳｅｑｕｅｎｃｅＣｈａｒａｃｔｅｒｉｚｅｄＡｍｐｌｉｆｉｅｄＲｅ－ｇｉｏｎｓ）标记特异引物，对３０个栽培大豆品种进行了指纹图谱分析。结果表明，较短的片段Ｓ—５６００和Ｓ—０５６６０是抗病品种的特征性条带；而较长的片段Ｓ—５１０００和Ｓ—５１６００是感病品种的特征性条带。Ｓｏｕｔｈｅｒｎ杂交结果表明，这两对引物扩增出的条带具有同源性。

引用

页码：51 / 54

页数：4