质子辐照对甲基硅橡胶电性能的影响

被引：1

作者：

张丽新

何松

机构：

[1] 哈尔滨工业大学空间材料与环境工程实验室

[2] 哈尔滨工业大学空间材料与环境工程实验室哈尔滨

[3] 哈尔滨

来源：

太阳能学报 | 2004年 / 05期

关键词：

质子辐照; 甲基硅橡胶; 电性能; 微观结构;

D O I：

暂无

中图分类号：

TM914 [光电池];

学科分类号：

080502 ;

摘要：

利用空间辐照环境模拟设备对甲基硅橡胶进行了质子辐照试验。辐照能量为150keV,辐照剂量范围为1014～1016cm-2。对辐照后样品进行了电子自旋共振(ESR)分析和电性能测试。研究发现,当质子辐照剂量小于1015cm-2时,交流击穿电压上升,体积电阻率、介电常数及介电损耗角正切无明显变化。当质子辐照剂量大于1015cm-2后,体积电阻率及交流击穿电压下降,介电常数及介电损耗角正切上升。残存自由基和微观结构的变化是引起电性能改变的主要原因。

引用

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