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基于软测量的电磁电器动态过程测试技术
被引:6
作者
:
论文数:
引用数:
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机构:
缪希仁
张培铭
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
福州大学电气工程系
张培铭
机构
:
[1]
福州大学电气工程系
来源
:
电工技术学报
|
2002年
/ 01期
关键词
:
软测量技术;
动态过程;
测试装置;
电磁电器;
D O I
:
10.19595/j.cnki.1000-6753.tces.2002.01.015
中图分类号
:
TM52 [低压电器(总论)];
学科分类号
:
摘要
:
针对现阶段电磁电器动态测试技术难以满足电器技术发展需要的现状 ,将软测量这一新兴工业技术引入电磁电器领域 ,提出了基于软测量的电磁电器动态过程测试技术。介绍了应用软测量的前提条件 ,在自行研制的光机电电磁电器动态测试装置中 ,成功地融入了软测量技术 ,并以CJ2 0— 10 0A为例 ,实现了动态过程的软测量。该项技术的实际应用与深入研究将提高电器技术的发展水平。
引用
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页码:73 / 76
页数:4
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