X光衍射法测定MoO在γ-AlO表面的单层分散量

被引：51

作者：

刘英骏

谢有畅

明晶

刘军

唐有祺

机构：

[1] 北京大学物理化学研究所

[2] 北京大学化学系

来源：

催化学报 | 1982年 / 04期

关键词：

单层分散; 光衍射; 电磁波衍射; MoO3; Al2O3; 晶相; 衍射峰;

D O I：

暂无

中图分类号：

学科分类号：

摘要：

晶相MoO3与载体γ-Al2O3充分混合后,在低于MoO3熔点的适当温度下焙烧(例如400℃焙烧24小时),当MoO3含量低于某一数值时,MoO3晶相的X光衍射峰完全消失;MoO3含量高于该数值时,晶相峰并不消失,但强度减弱。用X光衍射可测定焙烧后MoO3的残余晶相量,进而可得到MoO3在γ-Al2O3表面的最大分散量为0.12克/100米2。这与按密置单层排布的模型计算所得到的理论量0.117克/100米2非常一致。本文方法也适用于其它化合物在载体表面最大分散量的测定。

引用

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