大角度晶界的正电子湮没研究

被引：1

作者：

周先意

蒋惠林

王淑英

姜健

龙期威

机构：

[1] 中国科学技术大学

[2] 中国科学院高能物理研究所

[3] 中国科学院金属研究所

来源：

核技术 | 1989年 / 11期

关键词：

晶界; 正电子寿命; 饱和捕获;

D O I：

暂无

中图分类号：

学科分类号：

摘要：

从两态捕获模型出发,导出了正电子平均寿命与晶粒大小之间的关系,并且预言了晶界正电子饱和捕获效应的存在。在实验上,通过对Zn-22wt％Al合金大角度晶界正电子捕获效应的观察,验证了上述关系,并对大角度晶界正电子捕获效应的一般情况予以讨论。

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页数：5

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共 1 条

[1]

金属物理[M]. 科学出版社 , 冯端等编著, 1964