负热电离质谱技术在锇同位素测定中的应用

被引：27

作者：

方家骏

孙卫东

彭子成

王兆荣

张巽

机构：

[1] 美国FinninganMAT质谱公司中国服务站!北京

[2] 不详

[3] 中国科学技术大学地球和空间科学系!合肥，

[4] 第三世界科学院地球科学和天文学高级研究中心!合肥，

来源：

质谱学报 | 1997年 / 02期

关键词：

锇同位素; 负热电离质谱; 高精度测定;

D O I：

暂无

中图分类号：

O657.6 [];

学科分类号：

摘要：

本文用MAT－262质谱仪研究了负热电高质谱技术（N－TIMS）测定Os同位素组成的一些技术问题，首次采用样品与氧化剂一起点样等方法，配合通氧气（gasbleeding），显著地提高了电高效率，所获得的高于流强度明显高于文献值。获得的非放射成因Os同位素组成与国际著名实验室的数据一致，在样品量为0．2ng时仍获得了高精度的测试数据，明显优于现已发表的ICP－MS测试结果。可以测定多数地质样品中痕量（10－9～10－12）Os的同位素组成，为拓展我国Os同体素地球化学研究提供了高精度的测试手段。

引用

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