γ-Al2O3/Si（100）薄膜高真空MOCVD异质外延生长

被引：5

作者：

昝育德

王俊

韩秀峰

王玉田

王维民

王占国

林兰英

机构：

[1] 中国科学院半导体研究所

来源：

半导体学报 | 1998年 / 12期

关键词：

异质外延; Al2O3/Si; MOCVD; 高真空;

D O I：

暂无

中图分类号：

TN304.054 [];

学科分类号：

0805 ; 080501 ; 080502 ; 080903 ;

摘要：

本文作者在自己组装的立式ＭＯＣＶＤ设备上，成功地应用高真空生长技术，于１０５０℃的高温条件下，在硅上外延生长了γ－Ａｌ２Ｏ３薄膜．从ＲＨＥＥＤ看到（１００）硅上生长的薄膜是（１００）立方单晶γ－Ａｌ２Ｏ３的衍射图样；平移样品，图样并不发生变化．Ｘ射线双晶衍射看到，除了硅的（４００）峰和（２００）峰以外，只在２θ为４５°处有一个低而宽的小峰．ＸＰＳ谱给出氧的１ｓ峰位为５３２．３ｅＶ，Ａｌ的２ｐ峰位为７５．４ｅＶ，将他们与α－Ａｌ２Ｏ３比较，对应峰位移动了约３．５ｅＶ．俄歇谱说明其铝氧组分比近于γ－Ａｌ２Ｏ３．说明在我们实验室里确实长出单晶γ－Ａｌ２Ｏ３薄膜，与衬底的结晶关系是（１００）γ－Ａｌ２Ｏ３／／（１００）Ｓｉ，［０１０］γ－Ａｌ２Ｏ３／／［０１０］Ｓｉ．

引用

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