基于综合环境加速寿命试验的电子装备故障预测研究

被引：15

作者：

贾占强

蔡金燕

梁玉英

李刚

机构：

[1] 军械工程学院光学与电子工程系

来源：

电子学报 | 2009年 / 37卷 / 06期

关键词：

温湿度试验; 金属腐蚀; 加速性能退化; 故障预测; 可靠性预测;

D O I：

暂无

中图分类号：

TN07 [无线电产品的维修、保养];

学科分类号：

摘要：

对某型雷达天控系统的20kHz信号板进行均匀正交试验,利用试验数据对试验结果进行了深层次的分析,总结出温湿度条件下电子装备性能衰退的一般规律;针对在故障预测中占有重要地位的电子装备可靠性预测问题,提出了一种基于综合环境加速寿命试验的电子装备可靠性预测新方法,该方法将性能退化理论拓展为加速性能退化理论,将该理论与传统可靠性预测方法相结合,有效地解决了加速寿命试验中无失效数据的处理问题,最后通过具体的算例验证了该方法的有效性.

引用

页码：1277 / 1282

页数：6

共 6 条

[1]

环境应力作用下航天电连接器可靠性试验方案研究.[D].朱海峰.浙江大学.2003, 01

[2] 谈湿热试验结果与长期贮存的相关性 [J].

陶遵光 ;

曹立新 .

表面技术, 2000, (04) :31-33

[3]

通用雷达装备板级可靠性评估与试验研究..贾占强;.军械工程学院.2008,

[4]

可靠性物理.[M].姚立真编著;.电子工业出版社.2004,

[5]

加速寿命试验.[M].茆诗松;王玲玲著;.科学出版社.1997,

[6]

电子产品可靠性试验.[M].卢昆祥编著;.天津科学技术出版社.1987,

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