星载设备抗单粒子效应的设计技术初探

被引：3

作者：

王长龙，沈石岑，张传军

机构：

[1] 北京控制工程研究所

来源：

关键词：

星载计算机，抗辐射加固，技术;

D O I：

10.16804/j.cnki.issn1006-3242.1995.03.004

中图分类号：

V423 [航天器构造和设计];

学科分类号：

082501 ;

摘要：

本文探讨了现代星载设备研制过程中遇到的抗辐射设计问题之一，即抗单粒子效应的设计问题，首先简单介绍高能粒子引起的单粒子效应──单粒子翻转（ＳＥＵ）和单粒子锁定（ＳＥＬ），在此基础上分别探讨了星载设备抗ＳＥＬ和抗ＳＥＵ的设计方法。

引用

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