BIT技术的发展现状与应用分析

被引：16

作者：

同江 ^{[1
]}

蔡远文 ^{[2
]}

伯伟 ^{[1
]}

任江涛 ^{[1
]}

机构：

[1] 装备指挥技术学院研究生院

[2] 装备指挥技术学院航天装备系

来源：

关键词：

机内测试(Built-In Test); 虚警; 故障诊断; 人工智能;

D O I：

暂无

中图分类号：

TP274 [数据处理、数据处理系统];

学科分类号：

0804 ; 080401 ; 080402 ; 081002 ; 0835 ;

摘要：

BIT技术的性能主要从故障探测、故障定位(针对单一的外场可更换单元)、虚假警报、以及错误诊断等方面加以说明。对于正确隔离故障来说,BIT所制定的目标会随着BIT等级的不同而有所变化。BIT等级越低,正确隔离故障的总体能力就越低;BIT等级越高,正确隔离故障的总体能力就越高。

引用

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