粒状物质的微观均匀度及其对取样误差的影响分析

被引：2

作者：

高志

何锡文

张贵珠

李玉环

伍孝余

机构：

[1] 南开大学化学系,南开大学化学系,南开大学化学系,天津地质研究院,天津地质研究院天津,天津,天津,天津,天津

来源：

分析化学 | 1999年 / 04期

关键词：

粒度分布; 均匀度因子; 分层取样;

D O I：

暂无

中图分类号：

O651 [分析化学基础理论];

学科分类号：

070302 ; 081704 ;

摘要：

研究物质的取样属性与取样误差之间的关系是分析化学取样学的重要内容.从微观角度探讨了物质的理化性质及其对取样误差的影响.以碳化硅为例,考察了粒度分布、组分随粒度的变化以及均匀度因子等,分析了取样误差的来源.首次通过粒度分级成功地对碳化硅进行了分层,并对分层取样和随机取样的误差进行了分析和讨论,为制定合理的取样方案提供了有利的依据.本文的研究方法可适用于所有粒状物质的取样,同时也为分析化学取样学的深入研究拓宽了方向.

引用

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