用ESCA测定了Na2O含量为38、34、30、28(mol%)的三组Na2O—SiO2玻璃系列样品中的桥氧(Ob)和非桥氧(Onb)的Ois线间的化学位移及其相对含量。三组样品采用三种不同的方法制理其分析表面。实验表明,制备好玻璃的新鲜表面,防止外来氧的干扰,是该项测定的关键,Ar+离子溅射不失为一种有效的制备方法;手套箱中,在N2气氛中作人工断裂得到的新鲜断面,与超高真空(UHV)断裂台断裂的断面相比,具有几乎完全相同的分析效果。测定结果还表明,玻璃中的Ob和Onb的Ois线能量间的化学位移是1.8~2.0eV,Ob在高结合能端,这与金子泰成和Bruckner的结果一致;其定量结果与人工配制含量吻合。