OLED电极引线的腐蚀机理分析

被引:1
作者
彭雅芳 [1 ]
俞宏坤 [1 ]
蒋益明 [1 ]
余峰 [2 ]
张积梅 [2 ]
机构
[1] 复旦大学材料科学系
[2] 上海广电电子股份有限公司
关键词
有机电致发光器件; 铬镀层; 氧化铟锡玻璃; 电极引线腐蚀;
D O I
10.15943/j.cnki.fdxb-jns.2008.06.008
中图分类号
TN383.1 [];
学科分类号
0803 ;
摘要
有机电致发光器件(OLED)电极引线发生腐蚀是OLED失效的重要原因.用XRD,XPS,SEM和EDX等方法对镀Cr的ITO电极引线样品的腐蚀产物成分、结构和形貌进行了分析,XRD和XPS结果表明镀层Cr反应生成Cr(OH)3和CrO3,SEM和EDX结果表明Cr先腐蚀,ITO随后发生腐蚀.然后通过对引线样品在不同溶液中的极化曲线分析,得知Cr腐蚀产物的价态与其所处的电位有关,且氯离子对ITO腐蚀具有促进作用.最后根据实验结果对电极引线腐蚀的全过程提出一简化模型进行解释.
引用
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页码:769 / 772+780 +780
页数:5
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