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超低副瓣天线平面近场测量截断误差分析
被引：18
作者：
于丁
傅德民
刘其中
毛乃宏
机构：
[1] 西安电子科技大学天线与电磁散射研究所!陕西西安,西安电子科技大学天线与电磁散射研究所!陕西西安,西安电子科技大学天线与电磁散射研究所!陕西西安,西安电子科技大学天线与电磁散射研究所!陕西西安
来源：
关键词：
超低副瓣天线;
平面近场测量;
有限扫描面;
截断误差;
扫描面宽度选择原则;
D O I：
暂无
中图分类号：
TN827 [天线：按作用分];
学科分类号：
080906 [电磁信息功能材料与结构];
摘要：
给出了平面近场测量中由于有限扫描面截断所引起的远场相对误差的表达式以及扫描面宽度选择原则 ,用计算机模拟的方法研究了有限扫描面对超低副瓣天线平面近场测量结果的影响 ,得到了一些基本的规律 ,并证实了扫描面宽度选择原则对于超低副瓣天线平面近场测量的适用性和正确性 .
引用
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页码：378 / 382
页数：5
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