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半导体激光器端面剩余模式反射率测量结果的分析
被引：1
作者：
武岚
罗斌
陈建国
卢玉村
机构：
[1] 四川大学光电科学系
[2] 四川大学光电科学系 成都
[3] 成都
来源：
关键词：
半导体激光器;
光栅单色仪;
调制度;
端面剩余模式反射率;
D O I：
暂无
中图分类号：
学科分类号：
摘要：
本文分析了单色仪出射狭缝宽度对半导体激光器镀膜端面反射率测量的影响,理论预言了调制度和反射率的测量值以及测量谱中波峰和波谷的位置随缝宽周期性变化的规律。实验结果证实了理论预测的正确性。
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页码：349 / 353
页数：5
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