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粉末压片法对X荧光测定铬和钴的影响
被引:7
作者
:
曾宇斌
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机构:
广东省物料实验检测中心
曾宇斌
郑淑华
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广东省物料实验检测中心
郑淑华
张军
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机构:
广东省物料实验检测中心
张军
机构
:
[1]
广东省物料实验检测中心
来源
:
广州化工
|
2011年
/ 39卷
/ 11期
关键词
:
X荧光粉末压片法;
土壤样品;
铬;
钴;
D O I
:
暂无
中图分类号
:
O657.34 [X射线荧光分析法];
学科分类号
:
070302
[分析化学]
;
摘要
:
分别运用X射线荧光光谱法和电感耦合等离子体发射光谱法,对土壤样品中的Cr和Co进行含量分析检测。通过比较,讨论了在使用粉末压片法制样时,对X射线荧光光谱法测定土壤样品中微量Cr和Co所带来的影响以及应注意的问题,为提高测定微量Cr和Co的准确度提供了依据。
引用
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页码:101 / 102+118 +118
页数:3
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X射线荧光光谱法测定多目标地球化学调查样品中主次痕量组分
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中国地质科学院地球物理地球化学勘查技术研究所,中国地质科学院地球物理地球化学勘查技术研究所,中国地质科学院地球物理地球化学勘查技术研究所,中国地质科学院地球物理地球化学勘查技术研究所河北廊坊 ,河北廊坊 ,河北廊坊 ,河北廊坊
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岩矿测试,
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