大功率发光二极管可靠性和寿命评价试验方法

被引：31

作者：

贺卫利

郭伟玲

高伟

史辰

陈曦

吴娟

陈建新

机构：

[1] 北京工业大学电控学院光电子技术实验室

来源：

应用光学 | 2008年 / 04期

关键词：

发光二极管; 寿命评价试验方法; 加速应力; 数学模型;

D O I：

暂无

中图分类号：

TN312.8 [];

学科分类号：

0803 ;

摘要：

介绍了发光二极管(LED)的发展简史。提出可能影响LED可靠性的几种因素,主要有封装中的散热问题和LED本身材料缺陷。对于LED可靠性,主要方法是通过测试其寿命来分析其可靠性,一般采取加速实验的方法来测试推导LED寿命。介绍了根据加速应力(主要分为单一加速应力和复合加速应力2种)评价LED寿命的测试方法。在不同加速试验应力条件下测试了大功率LED可靠性,并建立了LED寿命的几种数学模型。最后根据具体实例,通过选择加速应力和试验方法,给出具体推导LED寿命的数学公式。

引用

页码：533 / 536+561 +561

页数：5

共 6 条

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