低温环境下光纤位移传感器测试系统的实验研究

被引：9

作者：

杨晶磊

胡小方

伍小平

机构：

[1] 中国科学院中国科学技术大学材料力学行为和设计重点实验室,中国科学院中国科学技术大学材料力学行为和设计重点实验室,中国科学院中国科学技术大学材料力学行为和设计重点实验室合肥,合肥,合肥

来源：

实验力学 | 2002年 / 01期

关键词：

低温; 光纤; 位移传感器; 强度补偿;

D O I：

暂无

中图分类号：

TP212.1 [物理传感器];

学科分类号：

140102 [集成电路设计与设计自动化];

摘要：

作者进行了光纤位移传感器在低温环境下的实验研究 ,分析了传感器的原理 ,测试了其室温、液氮温度下的静态传输特性 ,并进行了标定 .实验时采取的参考光强度补偿的措施 ,消除了光源、光纤衰减等波动对测试结果的影响 .利用本传感器系统测试了 1 9芯纯 Ag包套的高温超导带材 Bi2 2 2 3在液氮温度下的应力 -应变关系 ,以及应力 -临界电流之间的关系 ,结果与理论分析相一致 .实验结果表明 ,该传感器可以在液氮温度下正常工作 ,且具有测量范围大、测试精度高等优点 ,同时还克服了低温应变片仅能测试出复合材料基体或者包套应变的缺点 .

引用

页码：55 / 61

页数：7