提高CCD分辨率的一种尝试

被引：18

作者：

金杰

徐锡林

机构：

[1] 上海交通大学仪器工程系

来源：

现代计量测试 | 1997年 / 03期

关键词：

微／纳米技术,CCD,数字图像处理,测量分辨率;

D O I：

10.16428/j.cnki.cn11-4827/t.1997.03.009

中图分类号：

TB973 [无线电计量];

学科分类号：

摘要：

微／纳米技术是当前科研领域的一大热点，作为微／纳米技术的一个重要分支——微／纳米级测量技术自然也受到了广泛的重视。本论文的研究目的在于探索运用ＣＣＤ器件进行微／纳米量级测量的一种新方法。ＣＣＤ的测量分辨率受到其像元间距的限制，为欲突破这种限制，我们在运用数字图像处理技术的基础上，探讨了一种新的图像处理方法，为进一步提高ＣＣＤ检测的分辨率和精度作了一些理论及实践性的尝试

引用

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