基于D-S融合的电子电路故障诊断研究

被引：5

作者：

李端

余发山

机构：

[1] 河南理工大学电气工程学院

来源：

传感器与微系统 | 2006年 / 09期

关键词：

多传感器; 信息融合; D-S证据理论; 故障诊断;

D O I：

10.13873/j.1000-97872006.09.006

中图分类号：

TN707 [测试、检验];

学科分类号：

080902 ;

摘要：

根据电子电路故障元件诊断的不确定性问题,给出了多传感器D-S信息融合实现电路故障诊断的方法。通过检测电路工作时电子元件的温度和关键点电压两方面数据信息,得出两传感器对各待诊断元件的信度函数分配。再利用D-S联合规则结合模糊逻辑理论,得到融合后的信度函数分配,从而确定故障元件。实验结果说明:多传感器融合算法具有较高的准确率。

引用

页码：17 / 19

页数：3

共 4 条

[1] 基于故障树分析及虚拟仪器的电子部件故障诊断研究 [J].