针对FPGA内缺陷成团的电路可靠性设计研究

被引：5

作者：

杜文志

谭维炽

机构：

[1] 北京空间飞行器总体设计部

来源：

关键词：

集成电路; 可靠性; 冗余技术; 小型卫星;

D O I：

暂无

中图分类号：

V443 [电子设备];

学科分类号：

摘要：

文章分析了集成电路内缺陷成团机理及其对集成电路成品率的影响 ,应用集成电路成品率预计模型 ,分析了FPGA内缺陷成团对片内冗余容错电路可靠性的影响 ,据此提出了缺陷成团时提高FPGA片内冗余容错电路可靠性的策略 ,建立了相应的可靠性分析模型 ,给出了FPGA片内冗余容错电路布局的一些指导原则。

引用

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