基于振荡器的高性能真随机数发生器

被引：61

作者：

邓焕 ^{[1
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金荣华 ^{[1
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陈俊 ^{[1
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谢磊 ^{[1
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曾晓洋 ^{[1
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郭亚炜 ^{[2
]}

机构：

[1] 复旦大学专用集成电路与系统国家重点实验室

[2] 上海微科集成电路有限公司

来源：

固体电子学研究与进展 | 2007年 / 03期

关键词：

随机数发生器; 振荡器; 热噪声; 抖动;

D O I：

暂无

中图分类号：

TN752 [振荡器]; TN79 [数字电路];

学科分类号：

080508 [光电信息材料与器件]; 120506 [数字人文];

摘要：

设计了一种应用于信息安全SoC平台的基于振荡器的高性能真随机数发生器,其利用放大的电阻热噪声来增大慢振荡器的抖动,使得前后两次采样相互独立,提高了序列的随机性能。采用T触发器采样消除快振荡器占空比偏差的影响。真随机数发生器采用TSMC 0.25μm CMOS工艺,输出速率达4Mbps,通过NIST FIPS140-1和SP800-22中的各项测试。芯片面积为0.09mm2,工作电压为2.5V,功耗为4.15mW。

引用

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