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一种新的红外焦平面阵列非均匀性校正技术
被引:2
作者
:
曹治国
论文数:
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引用数:
0
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0
机构:
华中科技大学图像识别与人工智能研究所图像信息处理与智能控制教育部重点实验室
曹治国
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机构:
李辉
张天序
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机构:
华中科技大学图像识别与人工智能研究所图像信息处理与智能控制教育部重点实验室
张天序
机构
:
[1]
华中科技大学图像识别与人工智能研究所图像信息处理与智能控制教育部重点实验室
来源
:
华中科技大学学报
|
2001年
/ 12期
关键词
:
红外焦平面器件;
非均匀性校正;
噪声抵消;
D O I
:
10.13245/j.hust.2001.12.019
中图分类号
:
TN215 [红外探测、红外探测器];
学科分类号
:
0803 ;
080401 ;
080901 ;
摘要
:
在分析了红外焦平面阵列非均匀性的噪声特性基础上 ,提出用噪声抵消的方法来对红外焦平面阵列的非均匀性进行自适应校正 ,针对实际图像进行了实验 ,结果表明该方法比神经网络法能得到更好的校正效果 .
引用
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[1]
Infrared Focal Plane Array Technology .2 Kruer M R. Proc. IEEE . 1991
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