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从14届世界无损检测会议看工业CT技术的发展现状
被引：7
作者：
魏彪
先武
机构：
[1] 重庆大学ICT研究中心
[2] 重庆大学ICT研究中心 重庆
[3] 重庆
来源：
关键词：
无损检测;
材料试验;
会议论文;
会议录;
CT;
ICT;
图象重建;
D O I：
暂无
中图分类号：
TH878 [无损探伤仪器];
学科分类号：
0804 ;
080401 ;
081102 ;
摘要：
<正> 1996年12月8～13日在印度首都新德里举行了第14届世界无损检测会议。本文试图就这次会议情况分析国内外工业CT技术的发展现状。 1 从会议论文数看工业CT技术 这次会议共出版了五大卷论文集,约2700页,论文总数超过550篇,内容几乎涵盖或涉及了当今无损检测与评价(NDT&E)的各个方面。工业CT技术共有8篇论文进行了宣读,2篇展示论文。报告时,会场人员突然增多,说明与会人员十分关心工业CT技术领域的发展情况。但是,在第三卷论文集中,专门介绍工业CT技术的论文仅有10篇(另4篇在其它卷中),内容主要介绍工业CT技术的应用与发展。其中直接与工业CT设备有关的仅有3篇,一篇重庆大学ICT研究中心的γ-CT,另两篇为俄罗斯和印度的X-CT。由此可见,尽管工业CT技术
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