低密度校验码在瑞利衰落信道中的性能分析

被引：13

作者：

孙韶辉

贺玉成

王新梅

机构：

[1] 西安电子科技大学综合业务网国家重点实验室,西安电子科技大学综合业务网国家重点实验室,西安电子科技大学综合业务网国家重点实验室西安,西安,西安

来源：

计算机学报 | 2002年 / 10期

关键词：

低密度校验码; 瑞利衰落信道; 规则码; 非规则码;

D O I：

暂无

中图分类号：

TN911.22 [信道编码理论];

学科分类号：

070104 ; 081101 ;

摘要：

低密度校验 (L DPC)码具有编码增益高、译码速度快、可并行译码等特点 ,是当前编码界的一个研究热点 ,但是目前已有的研究成果都集中在高斯信道上 .该文分析和讨论了 L DPC码在瑞利衰落信道下的性能 ,应用联合界技术推导了一个规则码的性能限 ,并给出了仿真结果 ,且发现 L DPC码在瑞利衰落信道下也具有非常好的性能 .

引用

页码：1077 / 1082

页数：6

共 10 条

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