X-射线荧光光谱法测定生铁中硅和磷

被引：10

作者：

甄洪香

徐增芹

葛镧

机构：

[1] 济南钢铁集团总公司技术监督处

来源：

关键词：

偏振式能量色散型X-射线荧光光谱仪; 生铁; 次级靶;

D O I：

10.13228/j.issn.1000-7571.2005.04.011

中图分类号：

TG115.3 [化学试验法];

学科分类号：

摘要：

探讨了应用能量色散型X-射线荧光光谱仪测定生铁中硅和磷的炉前快速分析方法。该方法所得测定结果与化学法测定结果或标样认定值相吻合,相对标准偏差小于1.3%,与化学法相比,硅和磷的测定时间由15 min缩短到2 min。

引用

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