一种基于四象限探测器的深孔直线度测量方法的研究

被引：13

作者：

张鹏炜 ^{[1
]}

张智诠 ^{[1
]}

谢劲冰 ^{[2
]}

机构：

[1] 装甲兵工程学院光电工程室

[2] 内蒙古医学院计算机室

来源：

关键词：

半导体激光器; 四象限探测器; 直线度测量; 电压灵敏度;

D O I：

10.13741/j.cnki.11-1879/o4.2007.05.031

中图分类号：

TN249 [激光的应用];

学科分类号：

摘要：

介绍了以半导体激光光束为测量基准,采用四象限探测器进行深孔直线度检测的原理和方法。重点针对实际激光器近似于椭圆形状的入射光斑,推导了输出电压与椭圆光斑中心的变化规律,分析了光斑椭圆度对测量误差的影响,论证了方案的可行性与可靠性。

引用

页码：745 / 747+750 +750

页数：4

共 5 条