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ICP-AES分析中干扰及其校正方法的进展(Ⅰ)
被引:23
作者:
李帆
范健
机构:
[1] 北京航空材料研究院分析化学研究室,中南工业大学测试中心
来源:
关键词:
ICP-AES,综述,干扰校正;
D O I:
暂无
中图分类号:
O657.31 [原子发射光谱分析法];
学科分类号:
070302 ;
081704 ;
摘要:
本文对ICP AES分析中的光谱干扰、非光谱干扰及其校正方法的研究及应用的新进展进行了综述。
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页数:4
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