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X射线荧光光谱分析的现状和进展
被引:16
作者
:
陈远盘
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
中国有色金属工业总公司矿产地质研究院
陈远盘
机构
:
[1]
中国有色金属工业总公司矿产地质研究院
来源
:
光谱学与光谱分析
|
1995年
/ 02期
关键词
:
常规XRF,同步辐射XRF,全反射XRF;
D O I
:
暂无
中图分类号
:
O657.34 [X射线荧光分析法];
学科分类号
:
070302 ;
081704 ;
摘要
:
本文综述了常规X射线荧光(XRF)、同步辐射XRF、全反射XRF和其他XRF等四个方面的XRF光谱分析的现状和进展。
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页码:103 / 111
页数:9
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