基于加速寿命试验的IGBT模块寿命预测和失效分析

被引：56

作者：

刘宾礼

刘德志

唐勇

陈明

机构：

[1] 海军工程大学舰船综合电力技术国防科技重点实验室

来源：

江苏大学学报(自然科学版) | 2013年 / 34卷 / 05期

关键词：

加速寿命试验; 统计分析; 寿命分布; 预测模型; 失效机理;

D O I：

暂无

中图分类号：

TN386 [场效应器件];

学科分类号：

080508 [光电信息材料与器件];

摘要：

针对IGBT可靠性分析与寿命预测问题,提出了一种利用加速寿命试验对IGBT模块使用寿命进行预测的新方法.论述了加速寿命试验的原理与方法,提出采用对数正态分布描述IGBT模块的寿命分布,以阿伦尼斯模型为基础,利用极大似然估计法对试验数据进行统计与分析,建立了IGBT模块的寿命预测模型,实现了对正常应力下模块寿命的科学估计,并对IGBT模块的失效机理进行了详细分析.结果表明,IGBT模块寿命服从对数正态分布,纠正了以往认为其服从Weibull分布的错误思想.随结温差和平均结温的增大,IGBT模块寿命逐渐减小,并且当模块到达寿命终点时,其最终失效形式为热失效.

引用

页码：556 / 563

页数：8

共 6 条

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