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激光辐照CCD图象传感器局部的破坏效应研究
被引:39
作者
:
刘泽金,陆启生,蒋志平,赵伊君
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
国防科技大学应用物理系
刘泽金,陆启生,蒋志平,赵伊君
机构
:
[1]
国防科技大学应用物理系
来源
:
激光技术
|
1994年
/ 06期
关键词
:
CCD图象传感器,饱和阈值,破坏阈值,激光;
D O I
:
暂无
中图分类号
:
TN215 [红外探测、红外探测器];
学科分类号
:
摘要
:
研究了激光辐照CCD图象传感器局部时,CCD工作性能的变化;测量了连续波激光辐照下CCD的饱和阈值(分别对1060nm和632.8nm)及脉冲激光辐照下的破坏阈值;分析了造成饱和及破坏的机理;用一维绝热边界条件热模型计算热饱和阈值。
引用
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页码:344 / 347
页数:4
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光电器件概论[M]. 上海科学技术文献出版社 , 汤定元, 1989
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