基于图像分形相关位移测量新方法的研究

本文从分形理论出发提出了图像分形相关位移测量的新方法。较之 2 0世纪 80年代发展起来的以像素的灰度相关为基础的数字散斑相关法 ,分形相关法更充分地利用了散斑图的相关性特征 ,有着更深入的发展潜力。为了验证理论与方法的可靠性 ,进行了验证性实验并和数字散斑相关法的测试结果进行了比较。测试结果显示 ,测试精度至少可达 0 .0 6个像素。最后讨论了这一方法的发展前景。