空间紫外遥感仪器漫反射板的真空紫外辐照特性

被引：8

作者：

张振铎 ^{[1
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王淑荣 ^{[1
]}

李福田 ^{[1
]}

李博 ^{[1
,2
]}

林冠宇 ^{[1
]}

袁钾光 ^{[3
]}

机构：

[1] 不详

[2] 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所

[3] 不详

[4] 中国科学院研究生院

[5] 中国人民解放军总装备部沈阳军代局驻长春地区军代室

[6] 不详

来源：

光学精密工程 | 2008年 / 11期

关键词：

真空紫外辐照; 遥感仪器; Al+MgF2漫反射板; 空间环境; 漫反射衰减;

D O I：

暂无

中图分类号：

TP73 [探测仪器及系统];

学科分类号：

摘要：

由于漫反射板漫反射率值的变化将直接影响空间紫外遥感仪器在轨辐射定标结果,因此,对各种影响因素进行了研究。基于空间紫外辐照环境构建了漫反射板真空紫外辐照特性研究装置,利用该装置对空间紫外遥感仪器Al+MgF2漫反射板的真空紫外辐照特性进行了研究。实验结果表明,真空紫外辐照加速了漫反射板漫反射率值的衰减,漫反射板在160～300 nm整个波段出现衰减现象;衰减程度随辐照时间的增加不断增大;各波长处的衰减呈线性规律变化,衰减速率随波长的不同而不同。文中对可能引起衰减的原因进行了初步分析。

引用

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页数：5