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非正弦波形测量的同步采样技术
被引:7
作者
:
许遐
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
北京电力科学研究所
许遐
机构
:
[1]
北京电力科学研究所
来源
:
电测与仪表
|
1988年
/ Z1期
关键词
:
泄漏效应;
同步采样;
同步信号源;
锁相环路;
非正弦;
D O I
:
暂无
中图分类号
:
学科分类号
:
摘要
:
同步采样技术已广泛地应用于含有微处理机的测量装置中。本文介绍一种预整形同步采样技术,可以减小同步采样电路的同步误差,从而有效地抑制采样测量中的截断效应或泄漏效应,尤其是在非正弦周期电量的有效值和平均功率的测量以及其高次谐波的分折中,可使装置的测试精确度大为提高。
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on Pre.Electromag. R. Knight,New Methods of Electrical Power Measurement,Conf. Measurement . 1980
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