用相关测量技术实现精确靶定位技术研究

被引：13

作者：

戴亚平

黄关龙

李学春

华能

朱健强

姜锦虎

陈大庆

机构：

[1] 中国科学院上海光机所联合实验室!上海

[2] 苏州大学物理系!苏州

来源：

关键词：

散斑; 自相关; 线性插值; CCD;

D O I：

暂无

中图分类号：

TN249 [激光的应用];

学科分类号：

摘要：

介绍了一种高功率激光装置中用于X光实验的精确靶定位系统.该系统采用数字散斑相关测量的方法,其理论精度为0.01个像素。整套系统在实际运用中的误差小于8μm。该系统与计算机控制的步进电机配合使用,具有自动化程度高、大视场高精度和非接触性等优点。

引用

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共 5 条

[1] L ong distance measurement system of digital specklecorrelation. Jiang Jinhu,L iu Cheng,Shen Yang et al. Shanghai Mechanics . 1996
[2] The OMEGA target- Positioning system. L L E Review .
[3] A noise immunity criterion of digital speckle measurementsystem. L iu Cheng,Jiang Jinhu,Shen Yonghan. Shanghai Mechanics . 1996
[4] The experimental study for noise in digital speckle correlationmeasurement. Xiao Jinbiao,Jiang Jinhu,L iu Cheng. Shanghai Mechanics . 1996
[5] Optical Technical Manual. Wang Zhijiang,Chen Xingpu,L u Hanming et al. . 1987