基于边界扫描的电路板测试性优化设计

被引：5

作者：

刘冠军

温熙森

易晓山

机构：

[1] 国防科技大学机电工程与自动化学院

[2] 国防科技大学机电工程与自动化学院湖南长沙

[3] 湖南长沙

来源：

关键词：

边界扫描; 测试性优化设计; 电路板;

D O I：

暂无

中图分类号：

TP391.76 [];

学科分类号：

080402 ;

摘要：

基于边界扫描的电路板测试性设计中 ,迫切需要解决“测试性改善程度一定时 ,如何权衡设计使得设计复杂性最小”的问题。本文首先深入分析了该问题 ,证明它是一个NP 完全问题 ,然后基于贪婪策略提出了求解问题的优化算法。仿真实验表明 ,该算法能够得到较优化的电路板测试性设计方案。

引用

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