绝缘材料老化寿命模型的研究进展

被引:33
作者
蒋雄伟
贾志东
谢恒
机构
[1] 西安交通大学!(西安)
关键词
老化; 唯象模型; 物理模型;
D O I
10.13336/j.1003-6520.hve.2000.03.018
中图分类号
TM21 [绝缘材料、电介质及其制品];
学科分类号
摘要
对绝缘材料在单应力及多应力作用下的多种老化寿命模型进行了分类和评述 ,并探讨了今后的研究方向
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共 3 条
  • [1] Aging phenomenology and modeling. Montanari G C et al. IEEE Transactions on Engineering Management . 1993
  • [2] A general multistress life modelf or insulating materials with or without evidence of threshold. Simoni L et al. IEEE Transactions on Engineering Management . 1993
  • [3] Mutifactor aging models -origin and similarities. Gjarde A C. IEEE Transactions on Engineering Management . 1997