纳秒脉冲下圆台形可加工陶瓷真空沿面耐电特性测试与仿真分析

被引：9

作者：

黄学增 ^{[1
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张冠军 ^{[1
]}

詹江杨 ^{[1
]}

郑楠 ^{[1
]}

翟鹏 ^{[2
]}

马新沛 ^{[2
]}

机构：

[1] 西安交通大学电力设备电气绝缘国家重点实验室

[2] 不详

来源：

高电压技术 | 2011年 / 37卷 / 06期

关键词：

真空; 可加工陶瓷; 耐电性能; 锥角; 闪络电压; 电场;

D O I：

10.13336/j.1003-6520.hve.2011.06.037

中图分类号：

TM28 [电工陶瓷材料];

学科分类号：

摘要：

真空中绝缘子表面的沿面闪络现象极大地限制了电真空设备的发展进程。为此,将一种具有优良可加工性能和良好耐电性能的可加工陶瓷引入真空绝缘领域,结合工程实际中经常采用圆台形绝缘结构,将其加工成不同角度的圆台形绝缘子,在ns脉冲电压下对试品进行了真空沿面耐电性能的测试,并分析了锥角对阴极三结合点处电场、表面电荷分布和初始电子运动轨迹的影响。结果发现:正锥角的闪络电压明显高于负锥角,而45°绝缘子的闪络电压最高。分析认为,锥角对绝缘子阴极三结合点处的电场和表面电荷分布影响很大,正锥角时阴极三结合点处的电场和表面电荷密度较小,而负锥角时两者较大,同时负锥角时电子的自由程变短,减小了电子与绝缘子碰撞时的能量。

引用

页码：1548 / 1554

页数：7

共 11 条

[1] 新型可加工陶瓷真空中冲击闪络特性的研究 [J].