光学系统中杂光分析

被引：12

作者：

岑兆丰

何志平

李晓彤

朱启华

张清泉

机构：

[1] 浙江大学现代光学仪器国家重点实验室

[2] 中国工程物理研究院激光聚变研究中心

[3] 中国工程物理研究院激光聚变研究中心浙江杭州

[4] 浙江杭州

[5] 四川绵阳

来源：

光学仪器 | 2003年 / 02期

关键词：

光线追迹; 鬼像; 杂光;

D O I：

暂无

中图分类号：

O435 [几何光学];

学科分类号：

070207 ; 0803 ;

摘要：

光学系统的杂散光极易在系统内形成多个鬼像 ,这不仅严重影响光束质量和传输特性 ,并可能对系统光学元件造成永久性损伤。提出了一种基于光线追迹基础的分析光学系统杂光影响的有效方法 ,建立适合各类光学系统杂散光及鬼像分析的数理模型。编制了专门的杂散光分析软件 ,通过计算机光路模拟 ,对光学系统中的鬼光束进行全面、系统分析 ,可得出系统鬼像及关键元件处的能量密度 ,从而在光学系统设计阶段排除鬼像的潜在危害

引用

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共 3 条

[1]

Computer modeling of optical systems containing Fresnel lenses. Lamb D J,et al. AIP Conference Proceedings . 1998

[2]

High fluency 1. 05 m performance tests using 20ns shaped pulses on the beamlet prototype laser. Van Wonterghem B M,Murry J E,Burkhate S C. Proceedings of SPIE the International Society for Optical Engineering . 1996

[3]

Stray light analysis of basic model Gaussian beam. Cen Zhaofeng,Li Xiaotong,He Zhiping,et al. Proceedings of SPIE the International Society for Optical Engineering . 2002

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