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“综合计分卡”在高技术研究所管理中的应用
被引:1
作者
:
杨永峰
论文数:
0
引用数:
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0
机构:
中国科学技术大学管理学院
杨永峰
徐中平
论文数:
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机构:
中国科学技术大学管理学院
徐中平
机构
:
[1]
中国科学技术大学管理学院
[2]
中国科学技术大学管理学院 北京
[3]
北京
来源
:
华东经济管理
|
2003年
/ 03期
关键词
:
综合计分卡;
研究所;
管理;
D O I
:
10.19629/j.cnki.34-1014/f.2003.03.019
中图分类号
:
G322.2 [机构和团体];
学科分类号
:
摘要
:
文章围绕在建设国家知识创新工程试点的过程中中国科学院高技术口研究所的内部评价和管理展开研究,试图通过引入国际先进的评价管理系统———"综合计分卡"(BanlancedScorecard)制度,结合我国国立高技术研究所的实际情况,在科研产出、客户、内部管理过程、学习与成长四个方面建立了一个初步的评价指标体系结构,希望能对高技术研究所的内部评价和管理研究起到抛砖引玉的作用。
引用
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科技宏观分析[M]. 科学技术文献出版社 , 叶明 著, 1994
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