影响磁性薄膜微波磁谱测量精度的因素

被引：2

作者：

江建军

彭显旭

杜刚

张秀成

何华辉

机构：

[1] 华中科技大学电子科学与技术系

来源：

微波学报 | 2006年 / 05期

关键词：

复磁导率; 磁性薄膜; 微带法; 电阻率; 系统校准;

D O I：

暂无

中图分类号：

TM936 [磁数量测量及仪器];

学科分类号：

摘要：

针对铁磁薄膜复磁导率在微波频段的测量,本文采用了一种利用短路微带线进行扫频的新方法。在介绍其测量过程的基础上,重点分析了待测薄膜电阻率、修正因子K及系统校准等因素对测量的影响,并对应提出了减小误差的解决方法,从而提高了测量的精度。

引用

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共 1 条

[1]

A new strip line broad-band measurement evaluation for determining the complex permeability of thin ferromagnetic films. Bekker V, Seemann K, Leiste H. Journal of Magnetism and Magnetic Materials . 2004