矿区植被重金属胁迫高光谱分辨率数据分析

被引：9

作者：

卢霞 ^{[1
]}

刘少峰 ^{[2
]}

郑礼全 ^{[1
]}

机构：

[1] 中国矿业大学资源与安全工程学院

[2] 中国地质大学地球科学与资源学院

来源：

测绘科学 | 2007年 / 02期

关键词：

高光谱分辨率遥感; 导数光谱; 胁迫; 德兴铜矿;

D O I：

暂无

中图分类号：

TP79 [遥感技术的应用];

学科分类号：

081102 ; 0816 ; 081602 ; 083002 ; 1404 ;

摘要：

研究矿区植被重金属胁迫,植被反射光谱测量必不可少。用成像光谱仪野外测试江西德兴铜矿区典型植被的冠层反射波谱曲线,利用导数光谱评价植被“红边”位置。分析得知,植被红边“蓝移”,最大“蓝移”达11nm。根据红边位置与叶绿素含量的正相关关系,并结合铜矿区地质、地貌特点以及开采情况,初步断定铜矿区植被主要受到重金属胁迫而且胁迫程度与植被冠层重金属含量也呈正相关关系。这可作为高光谱分辨率遥感技术在矿区植被修复方面的决策支持和参考依据。

引用

页码：111 / 113+180 +180

页数：4

共 8 条

[1] 德兴铜矿铜污染状况调查及植物修复研究 [J].