大豆耐低温出苗的遗传分析与分子标记

大豆是光温敏性作物,其对低温的敏感性不但制约了大豆在高纬度地区的生产,也严重影响低纬度地区低温年大豆的种植产量。以周9311-3×徐9125的P1、P2、F1、F2、F2∶3为材料用主基因-多基因混合遗传模型分离分析法,对大豆耐低温出苗性状进行遗传分析,然后采用BSA和t测验的方法分析筛选与大豆耐低温出苗性状紧密连锁的SSR分子标记。结果表明:大豆耐低温出苗性状是受一对主基因控制,其遗传模型的适合性检验表明符合D-0模型,即耐低温性状受一对加性-显性主基因+加性-显性-上位性多基因控制,主基因呈超显性。大豆耐低温出苗性状和标记satt157及satt562相关,并根据R2得到两位点的变异解释率分别为3.4%和13.9%。根据已经发表的整合大豆遗传图谱中satt157、satt562的位置将大豆耐低温出苗的两个QTL初步定位于D1b和I连锁群。satt562的效应值较大属于主基因位点,satt157的效应值较小属于多基因位点。