红外焦平面阵列剩余非均匀性的计算

被引：3

作者：

刘会通

易新建

机构：

[1] 华中科技大学光电子工程系

[2] 华中科技大学图像识别与人工智能研究所湖北武汉　

[3] 湖北武汉　

来源：

关键词：

红外焦平面阵列; 非均匀性校正; 剩余非均匀性;

D O I：

暂无

中图分类号：

TN21 [红外技术及仪器];

学科分类号：

摘要：

从理论、计算方法和计算结果等方面分析了已有的三种剩余非均匀性(即剩余误差)计算方法的不足,根据探测器非线性响应原理,提出了一种新的方法。以实验数据对有关方法进行了验证,结果表明新的方法更为简单且更符合实际。与以前理论比较,推导出了近似公式。

引用

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